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집중 이온 빔의 극저온 전자 현미경 표본 준비하여 의미
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Journal JoVE Biologie
Cryo-electron Microscopy Specimen Preparation By Means Of a Focused Ion Beam
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집중 이온 빔의 극저온 전자 현미경 표본 준비하여 의미

DOI:
10.3791/51463-v

•

10:54 min

•

July 26, 2014

•

, , ,
1Department of Engineering Sciences,Uppsala University, 2Gatan Inc., 3Department of Microbiology,Swedish University of Agricultural Sciences, 4Physics Department,University of Oslo

Chapitres

  • 00:05Titre
  • 01:25Sample Freezing
  • 03:21Ion Milling
  • 05:56Cryo Transfer to TEM
  • 08:54Results: Visualization of Aspergillus niger Spores Using Cryo-microscopy
  • 10:20Conclusion

Summary

Traduction automatique

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극저온 전자 현미경은 스캐닝 (SEM) 또는 전송 (TEM) 중 하나는, 널리 높은 수분 함량 1 생체 시료 또는 기타 자료의 특성에 사용됩니다. SEM / 집중 이온 빔 (FIB)는 샘플에 대한 관심의 기능을 식별하고 극저온 TEM에 전송을위한 얇은 전자 투명한 얇은 판을 추출하는 데 사용됩니다.

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Cryo-electron MicroscopyFocused Ion BeamSpecimen PreparationAspergillus NigerCryo-TEMCryo-SEMLamella ExtractionTEM GridElectron TransparencyCryo-transfer StationNanomanipulatorContamination

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