Waiting
Traitement de la connexion…

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
Journal / Engineering / I Djup Analyser av lysdioder genom en kombination …
JoVE Journal
Engineering

Un abonnement à JoVE est nécessaire pour afficher ce contenu. Connectez-vous ou commencez votre essai gratuit.

JoVE Journal Engineering
I Djup Analyser av lysdioder genom en kombination av röntgen Computed Tomography (CT) och ljusmikroskop (LM) korrelerad med svepelektronmikroskop (SEM)
 
Click here for the English version

I Djup Analyser av lysdioder genom en kombination av röntgen Computed Tomography (CT) och ljusmikroskop (LM) korrelerad med svepelektronmikroskop (SEM)

Article DOI: 10.3791/53870-v • 10:42 min • June 16th, 2016
June 16th, 2016 •
1, 1, 1, 1
1Department Lippstadt, Hamm-Lippstadt University of Applied Sciences

Chapitres

résumé
Automatic Translation

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

En arbetsflöde för omfattande mikro karakterisering av aktiva optiska anordningar beskrivs. Den innehåller strukturella samt funktionella undersökningar med hjälp av CT, LM och SEM. Metoden demonstreras för en vit lysdiod som kan fortfarande användas under karakterisering.

Tags

Engineering lysdiod X-Ray datortomografi korrelerade ljus och elektronmikroskopi mikroanalys provberedning beredning av tvärsektioner
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter