Journal
/
Ingénierie
/
ייצור ושיטת מדידה לרכיב Ferroelectric גמיש בהתבסס על ואן דר Waals Heteroepitaxy
Journal JoVE
Ingénierie
Author Produced
Un abonnement à JoVE est nécessaire pour voir ce contenu.  Connectez-vous ou commencez votre essai gratuit.
Journal JoVE Ingénierie
A Fabrication and Measurement Method for a Flexible Ferroelectric Element Based on Van Der Waals Heteroepitaxy
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

ייצור ושיטת מדידה לרכיב Ferroelectric גמיש בהתבסס על ואן דר Waals Heteroepitaxy

DOI:
10.3791/57221-v

•

10:40 min

•

April 08, 2018

•

, , , ,
1Key Laboratory of Low Dimensional Materials and Application Technology of Ministry of Education,Xiangtan University, 2Department of Physics,Indian Institute of Science, 3Department of Materials Science and Engineering,National Chiao Tung University

Chapitres

  • 00:00Titre
  • 00:41Fabricate the Flexible PZT Thin Film
  • 02:19Ferroelectric Characterization: Bending Test
  • 04:28Ferroelectric Characterization: Thermal Stability
  • 05:19Ferroelectric Characterization: Bending Cyclability Tests
  • 06:23Results: Ferroelectric Properties Under Bent and High Temperature
  • 08:41Conclusion

Summary

Traduction automatique

Traduction automatique

בנייר זה, אנו מציגים פרוטוקול לגדול ישירות של epitaxial עדיין עופרת גמיש זירקוניום חומצה טיטנית רכיב זיכרון על מוסקבאי מיכה.

Tags

Flexible Ferroelectric ElementVan Der Waals HeteroepitaxyPZT Thin FilmMica SubstratePLDSRO Bottom ElectrodePlatinum Top ElectrodeFerroelectric CharacterizationBending Test

Article

Embed

AJOUTER À LA PLAYLIST

Usage Statistics

Vidéos Connexes

המצאה של Gratings ניגודיות הגבוה לפיצול הספקטרום Dispersive האלמנט במערכת פוטוולטאית מרוכזת

תהליך ייצור של מפעילי אלסטומר דיאלקטרי מבוסס סיליקון

שיטת ייצור למוליכים מאוד מתיחה עם Nanowires הכסף

שיטה סטנדרטית למדידת יעילות גבייה נגב-דגימה של חומרי נפץ Trace

יישום ניסיוני של שיטת ייצור ללא הפרדות צבע חדשה: חשיפת סיבי חשופות על פני השטח Composite בשיטת שכבה רכה

ייצור של חיישן גמיש בהתאם לרוחב NIPIN Phototransistors

הליכי גזירה, בדיקות מתיחה, ו ההזדקנות של ציפויים חד כיווני חד-כיווני מרוכבים

יישום של מיקרוסקופ לא לינארית על בסיס פיזור ראמאן מגורה

בדיית ואן דר ואלס הטרובנים עם יישור סיבוב מדויק

פיתוח שיטה עבור מדעי החלל ללא מגע מכשירים ספקטרוסקופיים הדיאלקטרי של הנייר תאית

Read Article