/

/

Bir imalat ve Van Der Waals Heteroepitaxy dayanan esnek bir Ferroelectric öğesi için ölçüm yöntemi

Journal JoVE
Ingénierie
Author Produced

Un abonnement à JoVE est nécessaire pour voir ce contenu. Connectez-vous ou commencez votre essai gratuit.

Journal JoVE Ingénierie

A Fabrication and Measurement Method for a Flexible Ferroelectric Element Based on Van Der Waals Heteroepitaxy

Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Bir imalat ve Van Der Waals Heteroepitaxy dayanan esnek bir Ferroelectric öğesi için ölçüm yöntemi

DOI:

10.3791/57221-v

•

10:40 min

•

April 08, 2018

•

Jie Jiang*¹, Yugandhar Bitla*², Qiang-xiang Peng, Yi-Chun Zhou, Ying-Hao Chu

¹Key Laboratory of Low Dimensional Materials and Application Technology of Ministry of Education,Xiangtan University, ²Department of Physics,Indian Institute of Science, ³Department of Materials Science and Engineering,National Chiao Tung University

Chapitres

00:00Titre
00:41Fabricate the Flexible PZT Thin Film
02:19Ferroelectric Characterization: Bending Test
04:28Ferroelectric Characterization: Thermal Stability
05:19Ferroelectric Characterization: Bending Cyclability Tests
06:23Results: Ferroelectric Properties Under Bent and High Temperature
08:41Conclusion

Summary

Traduction automatique

Bu yazıda, biz Moskof Mika esnek kurşun zirkonyum titanate bellek öğesini doğrudan bir Epitaksiyel henüz büyümeye bir iletişim kuralı mevcut.

Tags

Keywords: Flexible Ferroelectric Element Van Der Waals Heteroepitaxy PZT Thin Film Mica Substrate PLD SRO Bottom Electrode Platinum Top Electrode Ferroelectric Characterization Bending Test

Article

Embed

AJOUTER À LA PLAYLIST

Usage Statistics

Vidéos Connexes

Bir Konsantre Fotovoltaik Sistemde Spectrum Yarma Dağılım Eleman Yüksek Kontrast Gratings imalatı

Silikon tabanlı Dielektrik Elastomer Aktüatörler Fabrikasyon Süreci

Gümüş Nanotel ile son derece Gerilebilir İletkenler için bir Fabrikasyon Yöntemi

İz Patlayıcı Wipe-örneklemenin toplama verimi ölçümü için standart yöntem

Deneysel yeni bir bileşik imalat yöntemi uygulanması: bileşik yüzeyi yumuşak katman yöntemi tarafından çıplak lifleri ortaya

Esnek görüntü sensörü imalatı Lateral NIPIN Phototransistors dayalı.

Esnek tek yönlü kompozit laminatlar kesme prosedürleri, çekme testi ve yaşlanma

Hassas rotasyonel hizalama ile Van der Waals Heterostructures imalatı

Temassız Rezonans Kavite Dielektrik Spektroskopik Çalışmalar için Yöntem Geliştirme Selülozik Kağıt

Grafen Destekli Quasi-van der Waals Epitaxy AlN Film Nano-Desenli Safir Substrat ultraviyole Işık Yayan Diyotlar için

Read Article