Waiting
Elaborazione accesso...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
Journal / Engineering / Karakterisering av SiN integrerte optiske fasede…
JoVE Journal
Engineering

This Contenuto is Open Access.

JoVE Journal Engineering
Karakterisering av SiN integrerte optiske fasede arrayer på en Wafer-skala teststasjon
 
Click here for the English version

Karakterisering av SiN integrerte optiske fasede arrayer på en Wafer-skala teststasjon

Article DOI: 10.3791/60269-v • 05:57 min • April 1st, 2020
April 1st, 2020 •
1, 1, 1, 1, 1, 1, 1
1University Grenoble Alpes and CEA, LETI, Minatec Campus

Capitoli

Riepilogo
Automatic Translation

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

Her beskriver vi driften av en SiN integrert fotoniske krets som inneholder optiske fasede arrayer. Kretsene brukes til å avgi lav divergens laserstråler i nær infrarød og styre dem i to dimensjoner.

Tags

Engineering Optiske fasede arrayer integrertfoton SiN silisiumfotoni strålestyring LIDAR todimensjoner enkelt bølgelengde
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter