Rivista
/
Ingegneria
/
Co-lokalisatie kelvin probe force microscopie met andere microscopieën en spectroscopieën: geselecteerde toepassingen in corrosiekarakterisering van legeringen
JoVE Journal
Ingegneria
Author Produced
This content is Free Access.
JoVE Journal Ingegneria
Co-localizing Kelvin Probe Force Microscopy with Other Microscopies and Spectroscopies: Selected Applications in Corrosion Characterization of Alloys
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Co-lokalisatie kelvin probe force microscopie met andere microscopieën en spectroscopieën: geselecteerde toepassingen in corrosiekarakterisering van legeringen

DOI:
10.3791/64102-v

•

12:18 min

•

June 27, 2022

•

, , , , ,
1Micron School of Materials Science & Engineering,Boise State University, 2Material, Physical, and Chemical Sciences Center,Sandia National Laboratories, 3Center for Advanced Energy Studies

Capitoli

  • 00:05Introduction
  • 01:08Sample Preparation for Co-Localized Imaging of a Metal Alloy
  • 02:11KPFM Imaging
  • 06:51SEM, EDS, and EBSD Imaging
  • 07:41KPFM, SEM, EDS, and EBSD Image Overlay and Analysis
  • 09:37Results I: 3D Printed Ternary Ti Alloy: KPFM and SEM/EBSD
  • 10:41Results II: Cross-Sectional Analysis of Zr Alloys for Nuclear Cladding: KPFM, SEM, and Raman
  • 11:21Conclusion

Summary

Traduzione automatica

Traduzione automatica

Kelvin probe force microscopie (KPFM) meet oppervlaktetopografie en verschillen in oppervlaktepotentiaal, terwijl scanning elektronenmicroscopie (SEM) en bijbehorende spectroscopieën oppervlaktemorfologie, samenstelling, kristalliniteit en kristallografische oriëntatie kunnen ophelderen. Dienovereenkomstig kan de co-lokalisatie van SEM met KPFM inzicht geven in de effecten van nanoschaalsamenstelling en oppervlaktestructuur op corrosie.

Tags

Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM)Scanning Electron Microscopy (SEM)ColocalizationCorrosion CharacterizationAlloysSurface PotentialSurface TopographyMaterial StructureProperty PerformanceSample PreparationConductive PathAFM Probe

Article

Embed

AGGIUNGI ALLA PLAYLIST

Usage Statistics

Video correlati

check_url/it/64102?article_type=v

Karakterisering van Surface Wijzigingen door Wit Licht Interferometrie: Toepassingen in Ion sputteren, Laser Ablatie en Tribologie Experimenten
check_url/it/64102?article_type=v

Voorbereiding en Friction Force Microscopy Metingen van mengbaar, tegengestelde polymeer Borstels
check_url/it/64102?article_type=v

probing C<sub> 84</sub> Ingebedde Si-substraat met behulp van Scanning Probe Microscopy and Molecular Dynamics
check_url/it/64102?article_type=v

Sub-nanometer Resolution Imaging met amplitude-modulatie Atomic Force Microscopy in Liquid
check_url/it/64102?article_type=v

Karakterisering van Ultra-fijnkorrelige en nanokristallijne materialen met behulp van Transmission Kikuchi Diffraction
check_url/it/64102?article_type=v

Microfluïdische Imaging Flow Cytometry door Asymmetrische Deteksie Time-stretch Optische Microscopie (ATOM)
check_url/it/64102?article_type=v

Fabricage van Polymer Microsferen voor Optische Resonator en Laser Applicaties
check_url/it/64102?article_type=v

Bepalen Tribocorrosion tarief en slijtage-corrosie synergie van Bulk en dunne Film aluminium legeringen
check_url/it/64102?article_type=v

In Situ Transmission Electron Microscopy met biasing en fabricage van asymmetrische dwarsbalken op basis van gemixte a-VOx
check_url/it/64102?article_type=v

Active Probe Atomic Force Microscopy with Quattro-Parallel Cantilever Arrays for High-Throughput Large-Scale Sample Inspection

Read Article