Målrettede studier ved hjelp av seriell blokk ansikt og fokusert ion Beam Scan Electron mikroskopi

Her presenterer vi en protokoll for effektivt kombinere seriell blokk ansikt og fokusert ion Beam skanning elektron mikroskopi å målrette et område av interesse. Dette gjør det mulig for effektiv søking, i tre dimensjoner, og finne sjeldne hendelser i et stort synsfelt.