Samlokalisering af Kelvin Probe Force Mikroskopi med andre mikroskopier og spektroskopier: Udvalgte applikationer inden for korrosionskarakterisering af legeringer

Kelvin sondekraftmikroskopi (KPFM) måler overfladetopografi og forskelle i overfladepotentiale, mens scanningselektronmikroskopi (SEM) og tilhørende spektroskopier kan belyse overflademorfologi, sammensætning, krystallinitet og krystallografisk orientering. Derfor kan samlokaliseringen af SEM med KPFM give indsigt i virkningerne af nanoskala sammensætning og overfladestruktur på korrosion.