Waiting
Processando Login

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
Journal / Engineering / אפיון מקיף של פגמים מורחבים סמיקונדקטור חומרים על …
JoVE Journal
Engineering

This Conteúdo is Open Access.

JoVE Journal Engineering
אפיון מקיף של פגמים מורחבים סמיקונדקטור חומרים על ידי מיקרוסקופ סורק האלקטרוני
 
Click here for the English version

אפיון מקיף של פגמים מורחבים סמיקונדקטור חומרים על ידי מיקרוסקופ סורק האלקטרוני

Article DOI: 10.3791/53872-v • 11:14 min • May 28th, 2016
May 28th, 2016 •
1, 1, 1, 1, 2, 2, 1
1Institute of Applied Physics, Semiconductor Physics, Technische Universität Dresden, 2Institut für Strukturphysik, Technische Universität Dresden

Capítulos

Tags

הנדסה גיליון 111 מיקרוסקופ אלקטרונים סורק (SEM) סיליקון cathodoluminescence (CL) קרן אלקטרונים הזרם המושרה (EBIC) חוצה קשר backscatter אלקטרון השתברות (ccEBSD) לנקעים גבולות תבואה הארה D אונליין
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter