Waiting
Processando Login

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
Journal / Engineering / סריקה אור מפזר Profiler (SLPS) מתודולוגיה מבוססת…
JoVE Journal
Engineering

É necessário ter uma assinatura JoVE para assistir este Faça login ou comece sua avaliação gratuita.

JoVE Journal Engineering
סריקה אור מפזר Profiler (SLPS) מתודולוגיה מבוססת כדי להעריך כמותית קדימה ואחורה אור פיזור מ עדשות עדשות
 
Click here for the English version

סריקה אור מפזר Profiler (SLPS) מתודולוגיה מבוססת כדי להעריך כמותית קדימה ואחורה אור פיזור מ עדשות עדשות

Article DOI: 10.3791/55421-v • 06:55 min • June 6th, 2017
June 6th, 2017 •
1, 2, 1, 2
1Office of Device Evaluation, Center for Devices and Radiological Health, U.S. Food and Drug Administration, 2Optical Therapeutics and Medical Nanophotonics Laboratory, Office of Science and Engineering Laboratories, Center for Devices and Radiological Health, U.S. Food and Drug Administration

Capítulos

Resumo
Automatic Translation

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

פרוטוקול זה מתאר את האור סריקה פיזור Profiler (SLSP) המאפשר הערכה זווית מלא זווית של פיזור קדימה ואחורה של אור מן עדשות תוך עינית (IOLs) באמצעות עקרונות goniophotometer.

Tags

הנדסה גיליון 124 עדשה תוך עינית פיזור אור גוניופוטומטר בוהק בוהק ניתוח קטרקט
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter