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Haz de iones enfocado fresado y microscopía electrónica de barrido en el tejido cerebral
JoVE Journal
Neuroscience
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JoVE Journal Neuroscience
Focussed Ion Beam Milling and Scanning Electron Microscopy of Brain Tissue
DOI:

08:57 min

July 06, 2011

, ,

Chapters

  • 00:05Title
  • 01:29Sample Fixation and Resin Embedding
  • 04:00Preparing the Sample for the FIB/SEM
  • 05:55Imaging the FIB/SEM
  • 08:03Results: FIB/SEM Images of Brain Tissue
  • 08:40Conclusion

Summary

Automatic Translation

Este protocolo describe cómo resina incrustada tejido cerebral puede ser preparado y fotografiado en las tres dimensiones en el haz de iones enfocado, microscopio electrónico de barrido.

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