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F 의 310 Nm 분리에 의해 설명 하는 음이온의 광전자 이미징
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Chemistry
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JoVE Journal Chemistry
Photoelectron Imaging of Anions Illustrated by 310 Nm Detachment of F
DOI:

06:53 min

July 27, 2018

, , ,

Chapters

  • 00:04Title
  • 00:31Ion Generation
  • 01:03Ion Extraction, Separation and Detection
  • 01:56Photoelectron Production and Detection
  • 03:22Image Focusing and Collection
  • 04:22Results: Photoelectron Imaging of Anions
  • 05:50Conclusion

Summary

Automatic Translation

여기, 선물이 음이온 종의 광전자 이미징에 대 한 프로토콜. 음이온 vacuo에서 생성 하 고 질량 분석으로 구분 속도 매핑된 광전자 이미징, 음이온 전자 상태의 자연과 음이온 및 중립 에너지 레벨, 음이온, 중립 구조 상세 정보 제공을 사용 하 여 조사 됩니다.

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