Journal
/
/
Измерения жизни несущей в полупроводниках методом микроволновой фотопроводимости распада
JoVE Journal
Engineering
This content is Free Access.
JoVE Journal Engineering
Carrier Lifetime Measurements in Semiconductors through the Microwave Photoconductivity Decay Method
DOI:

07:38 min

April 18, 2019

, ,

Chapters

  • 00:04Title
  • 00:49Preparation of the Sample and Aqueous Solutions
  • 01:44Preparation of the Measuring Equipment
  • 03:36Measurement and Data Processing
  • 05:47Results: Normalized and Calculated μ-PCD Decay Curves for the n-type 4H-SIC Sample in Air and Aqueous Solutions
  • 06:29Conclusion

Summary

Automatic Translation

Как один из важных физических параметров в полупроводниках перевозчик жизни измеряется здесь через протокол, используя метод распада фотопроводимости Микроволновая печь.

Related Videos

Read Article