Journal
/
Engineering
/
Visualiseren van eenassige-stam manipulatie van Antiferromagnetic domeinen in Fe1 +YTe gebruiken een Spin-gepolariseerde Scanning Tunneling Microscoop
JoVE Journal
Engineering
A subscription to JoVE is required to view this content.  Sign in or start your free trial.
JoVE Journal Engineering
Visualizing Uniaxial-strain Manipulation of Antiferromagnetic Domains in Fe1+YTe Using a Spin-polarized Scanning Tunneling Microscope
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Visualiseren van eenassige-stam manipulatie van Antiferromagnetic domeinen in Fe1 +YTe gebruiken een Spin-gepolariseerde Scanning Tunneling Microscoop

DOI:
10.3791/59203-v

•

09:06 min

•

March 24, 2019

•

, , , , ,
1Department of Physics, Applied Physics and Astronomy,Binghamton University, 2Institute of Physics,University of Silesia

Chapters

  • 00:04Title
  • 01:13Mechanical Uniaxial-strain Device Setup
  • 02:17Strain Application
  • 04:22STM Experiments
  • 05:52Single Antiferromagnetic Domain on Strained Fe1+yTe
  • 08:12Conclusion

Summary

Automatic Translation

Automatic Translation

Met eenassige stam gecombineerd met de spin-gepolariseerde scanning tunneling microscopie, wij visualiseren en manipuleren van de antiferromagnetic domeinstructuur van Fe1 + yTe, de bovenliggende compound van ijzer gebaseerde supergeleiders.

Tags

Keywords: Uniaxial-strainAntiferromagnetic DomainsFe1+YTeSpin-polarized Scanning Tunneling MicroscopeHigh Temperature SuperconductorsBroken Symmetry StatesSingle CrystalSDM-compatibleDevice TestingVisual Demonstration

Article

Embed

ADD TO PLAYLIST

Usage Statistics

Related Videos

check_url/59203?article_type=v

Scanning-probe Single-electron Capaciteit Spectroscopie
check_url/59203?article_type=v

Fabricage van Gate-afstembare Grafeen Inrichtingen voor Scanning Tunneling Microscopy Studies met Coulomb Verontreinigingen
check_url/59203?article_type=v

Visualiseren Hyporheic Flow Through bedforms behulp Dye Experimenten en Simulation
check_url/59203?article_type=v

Uitgebreide karakterisatie van Extended Defecten in Semiconductor Materials door een Scanning Electron Microscope
check_url/59203?article_type=v

probing C<sub> 84</sub> Ingebedde Si-substraat met behulp van Scanning Probe Microscopy and Molecular Dynamics
check_url/59203?article_type=v

Hand Gecontroleerde Manipulatie van enkele moleculen via een Scanning Probe Microscope met een 3D Virtual Reality Interface
check_url/59203?article_type=v

Het bestuderen van dynamische processen van Nano-sized Objecten in Vloeistof met behulp van Scanning Transmission Electron Microscopy
check_url/59203?article_type=v

Het scannen van SQUID Studie van Vortex manipulatie door Local Contact
check_url/59203?article_type=v

Precisie Frezen van koolstof nanobuis Bossen Met behulp van Low Pressure Scanning Electron Microscopy
check_url/59203?article_type=v

Demonstratie van een Hyperlens-geïntegreerd Microscoop en super resolutie beeldvorming

Read Article