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이류성 에 대한 착상 전 유전자 검사를위한 반도체 시퀀싱
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Genetics
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JoVE Journal Genetics
Semiconductor Sequencing for Preimplantation Genetic Testing for Aneuploidy
DOI:

00:09 min

August 25, 2019

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Chapters

  • 00:04Title
  • 01:26Library Pooling and Emulsion PCR Using an Emulsion System
  • 03:21Enrichment System (ES) Setup
  • 04:29Template Preparation
  • 05:17Sample Loading and Sequencing
  • 07:56Results: Next-generation Semiconductor Sequencing for PGT-A
  • 08:25Conclusion

Summary

Automatic Translation

여기서는 짧은 처리 시간, 낮은 비용 및 높은 처리량의 장점을 가진 이수성 (PGT-A)에 대한 착상 전 유전자 검사를위한 반도체 염기서열 분석 방법을 소개합니다.

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