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Sondage de l’activité électrochimique de surface des nanomatériaux à l’aide d’un microscope électrochimique hybride à force atomique-microscope à balayage (AFM-SECM)
JoVE Journal
Chemistry
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JoVE Journal Chemistry
Probing Surface Electrochemical Activity of Nanomaterials using a Hybrid Atomic Force Microscope-Scanning Electrochemical Microscope (AFM-SECM)
DOI:

08:31 min

February 10, 2021

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Chapters

  • 00:04Introduction
  • 01:17Sample Preparation for AFM-SECM
  • 02:01Setup and Operation of AFM-SECM
  • 06:24Results: Topography and Current Imaging of ONBs and Cu2O NPs by AFM-SECM
  • 07:33Conclusion

Summary

Automatic Translation

La microscopie à force atomique (AFM) combinée à la microscopie électrochimique à balayage (SECM), à savoir AFM-SECM, peut être utilisée pour acquérir simultanément des informations topographiques et électrochimiques à haute résolution sur les surfaces des matériaux à l’échelle nanométrique. Ces informations sont essentielles pour comprendre les propriétés hétérogènes (p. ex. réactivité, défauts et sites de réaction) sur les surfaces locales des nanomatériaux, des électrodes et des biomatériaux.

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