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Sondagem atividade eletroquímica de superfície de nanomateriais usando um microscópio eletroquímico de microscópio de força atômica híbrida (AFM-SECM)
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JoVE Journal Chemistry
Probing Surface Electrochemical Activity of Nanomaterials using a Hybrid Atomic Force Microscope-Scanning Electrochemical Microscope (AFM-SECM)

Sondagem atividade eletroquímica de superfície de nanomateriais usando um microscópio eletroquímico de microscópio de força atômica híbrida (AFM-SECM)

DOI:
10.3791/61111-v

•

08:31 min

•

February 10, 2021

•

, , ,
1Department of Civil and Environmental Engineering,New Jersey Institute of Technology

Chapters

  • 00:04Introduction
  • 01:17Sample Preparation for AFM-SECM
  • 02:01Setup and Operation of AFM-SECM
  • 06:24Results: Topography and Current Imaging of ONBs and Cu2O NPs by AFM-SECM
  • 07:33Conclusion

Summary

Automatic Translation

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A microscopia de força atômica (AFM) combinada com a microscopia eletroquímica de varredura (SECM), ou seja, AFM-SECM, pode ser usada para adquirir simultaneamente informações topográficas e eletroquímicas de alta resolução em superfícies materiais em nanoescala. Tais informações são fundamentais para a compreensão de propriedades heterogêneas (por exemplo, reatividade, defeitos e locais de reação) em superfícies locais de nanomateriais, eletrodos e biomateriais.

Tags

Keywords: NanomaterialsAtomic Force MicroscopeScanning Electrochemical MicroscopeAFM-SECMElectrochemical ActivityNanoparticlesNanobubblesSample PreparationRedox MediatorElectrochemical Sample CellESD Protection

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