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通过 3D 相关聚焦离子束铣削制备样品，用于高分辨率冷冻电子断层扫描

JoVE Journal
Biology

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Sample Preparation by 3D-Correlative Focused Ion Beam Milling for High-Resolution Cryo-Electron Tomography

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通过 3D 相关聚焦离子束铣削制备样品，用于高分辨率冷冻电子断层扫描

DOI:

10.3791/62886-v

•

08:20 min

•

October 25, 2021

•

Anna Bieber*¹, Cristina Capitanio*¹, Florian Wilfling², Jürgen Plitzko, Philipp S. Erdmann³

¹Max Planck Institute of Biochemistry, ²Max Planck Institute for Biophysics, ³Fondazione Human Technopole

Chapters

00:04Introduction
00:36Cryo-Fluorescence Light Microscopy (Cryo-FLM) of Plunge‐Frozen Grids with Cells
01:51Focused Ion Beam (FIB) Milling
05:47Correlative Transmission Electron Microscopy (TEM)
07:02Results: Visualizing the Endocytic Protein Deposit in the Cell with Cryo‐ET
07:38Conclusion

Summary

Automatic Translation

在这里，我们提出了一种用于3D相关聚焦离子束铣削的管道，以指导用于冷冻电子断层扫描的细胞样品的制备。首先通过冷冻荧光显微镜确定目标荧光标记蛋白质的3D位置，然后靶向研磨。该方案适用于哺乳动物、酵母和细菌细胞。

Tags

Keywords: 3D-correlative FIB Milling Cryo-electron Tomography Cryo-fluorescence Microscopy Cryo-FIB-SEM SEM Grid Overview FLM-SEM Correlation Ion Beam Imaging Cellular Ultrastructure

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