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고분해능 극저온 전자 단층촬영을 위한 3D-Correlative Focused Ion Beam Milling을 이용한 시료 전처리

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Sample Preparation by 3D-Correlative Focused Ion Beam Milling for High-Resolution Cryo-Electron Tomography

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고분해능 극저온 전자 단층촬영을 위한 3D-Correlative Focused Ion Beam Milling을 이용한 시료 전처리

DOI:

10.3791/62886-v

•

08:20 min

•

October 25, 2021

•

Anna Bieber*¹, Cristina Capitanio*¹, Florian Wilfling², Jürgen Plitzko, Philipp S. Erdmann³

¹Max Planck Institute of Biochemistry, ²Max Planck Institute for Biophysics, ³Fondazione Human Technopole

Chapters

00:04Introduction
00:36Cryo-Fluorescence Light Microscopy (Cryo-FLM) of Plunge‐Frozen Grids with Cells
01:51Focused Ion Beam (FIB) Milling
05:47Correlative Transmission Electron Microscopy (TEM)
07:02Results: Visualizing the Endocytic Protein Deposit in the Cell with Cryo‐ET
07:38Conclusion

Summary

Automatic Translation

여기에서는 초저온 전자 단층 촬영을 위한 세포 샘플 준비를 안내하는 3D 상관 집속 이온 빔 밀링을 위한 파이프라인을 제시합니다. 형광 태그가 부착된 관심 단백질의 3D 위치는 먼저 극저온 형광 현미경으로 측정한 다음 밀링을 대상으로 합니다. 이 프로토콜은 포유류, 효모 및 박테리아 세포에 적합합니다.

고분해능 극저온 전자 단층촬영을 위한 3D-Correlative Focused Ion Beam Milling을 이용한 시료 전처리

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