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Microscopie à force atomique Nanoindentation basée sur le porte-à-faux: mesures des propriétés mécaniques à l’échelle nanométrique dans l’air et les fluides
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1Micron School of Materials Science & Engineering,Boise State University, 2Department of Mechanical & Biomedical Engineering,Boise State University, 3Department of Physics,Boise State University, 4Energy and Environmental Science and Technology,Idaho National Laboratory, 5Science and Technology,Idaho National Laboratory, 6Harold Hamm School of Geology & Geological Engineering,University of North Dakota, 7Biomolecular Sciences Graduate Program,Boise State University, 8Center for Advanced Energy Studies
Chapters
- 00:05Introduction
- 00:58Sample Preparation and Instrument Setup
- 02:05Probe Calibration
- 04:15Collecting Force-Displacement (F-D) Data
- 05:58F-D Curve Analysis
- 06:44Results: Recent Advances in Atomic Force Microscopy for Surface Property Studies
- 08:07Conclusion
La quantification de la zone de contact et de la force appliquée par la pointe d’une sonde de microscope à force atomique (AFM) à une surface d’échantillon permet de déterminer les propriétés mécaniques à l’échelle nanométrique. Les meilleures pratiques pour mettre en œuvre la nanoindentation à base de porte-à-faux AFM dans l’air ou le fluide sur des échantillons mous et durs pour mesurer le module d’élasticité ou d’autres propriétés nanomécaniques sont discutées.
