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Rasterkraftmikroskopie Cantilever-basierte Nanoindentation: Messungen mechanischer Eigenschaften auf der Nanoskala in Luft und Flüssigkeit
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Atomic Force Microscopy Cantilever-Based Nanoindentation: Mechanical Property Measurements at the Nanoscale in Air and Fluid
DOI:

08:58 min

December 02, 2022

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Chapters

  • 00:05Introduction
  • 00:58Sample Preparation and Instrument Setup
  • 02:05Probe Calibration
  • 04:15Collecting Force-Displacement (F-D) Data
  • 05:58F-D Curve Analysis
  • 06:44Results: Recent Advances in Atomic Force Microscopy for Surface Property Studies
  • 08:07Conclusion

Summary

Automatic Translation

Die Quantifizierung der Kontaktfläche und der Kraft, die von einer Rasterkraftmikroskop-Sondenspitze (AFM) auf eine Probenoberfläche ausgeübt wird, ermöglicht die Bestimmung der mechanischen Eigenschaften im Nanobereich. Best Practices zur Implementierung von AFM-Cantilever-basierter Nanoindentation in Luft oder Flüssigkeit an weichen und harten Proben zur Messung des Elastizitätsmoduls oder anderer nanomechanischer Eigenschaften werden diskutiert.

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