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परमाणु बल माइक्रोस्कोपी कैंटिलीवर-आधारित नैनोइंडेंटेशन: हवा और द्रव में नैनोस्केल पर यांत्रिक संपत्ति माप
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1Micron School of Materials Science & Engineering,Boise State University, 2Department of Mechanical & Biomedical Engineering,Boise State University, 3Department of Physics,Boise State University, 4Energy and Environmental Science and Technology,Idaho National Laboratory, 5Science and Technology,Idaho National Laboratory, 6Harold Hamm School of Geology & Geological Engineering,University of North Dakota, 7Biomolecular Sciences Graduate Program,Boise State University, 8Center for Advanced Energy Studies
Chapters
- 00:05Introduction
- 00:58Sample Preparation and Instrument Setup
- 02:05Probe Calibration
- 04:15Collecting Force-Displacement (F-D) Data
- 05:58F-D Curve Analysis
- 06:44Results: Recent Advances in Atomic Force Microscopy for Surface Property Studies
- 08:07Conclusion
एक नमूना सतह पर परमाणु बल माइक्रोस्कोप (एएफएम) जांच टिप द्वारा लागू संपर्क क्षेत्र और बल की मात्रा निर्धारित करना नैनोस्केल यांत्रिक संपत्ति निर्धारण को सक्षम बनाता है। लोचदार मापांक या अन्य नैनोमैकेनिकल गुणों को मापने के लिए नरम और कठोर नमूनों पर हवा या तरल पदार्थ में एएफएम कैंटिलीवर-आधारित नैनोइंडेंटेशन को लागू करने के लिए सर्वोत्तम प्रथाओं पर चर्चा की गई है।
