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하이 온도 플라즈마 진단으로 사용하기 위해 X 선 영상 크리스탈 분광학 적용
Preparation and Friction Force Microscopy Measurements of Immiscible, Opposing Polymer Brushes
Journal (Engineering)
Preparation and Friction Force Microscopy Measurements of Immiscible, Opposing Polymer Brushes
A Method for Studying the Temperature Dependence of Dynamic Fracture and Fragmentation
Journal (Engineering)
A Method for Studying the Temperature Dependence of Dynamic Fracture and Fragmentation
 
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하이 온도 플라즈마 진단으로 사용하기 위해 X 선 영상 크리스탈 분광학 적용

Article DOI: 10.3791/54408-v • 06:46 min • August 25th, 2016
August 25th, 2016 •
1, 2, 3
1Department of Nuclear Science and Engineering, Massachusetts Institute of Technology, 2Department of Physics, Massachusetts Institute of Technology, 3Plasma Science and Fusion Center, Massachusetts Institute of Technology

Chapters

Summary
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X 선 스펙트럼은 고온 플라즈마에 풍부한 정보를 제공합니다. 이 원고는 공간적으로 토카막 플라즈마 중간 원자 번호 원소의 수소와 헬륨 등의 이온을 확인하는 데 사용되는 X 선 분광계 이미징 높은 파장 해상도의 동작을 제공합니다.

Tags

공학 문제 (114) X 선 분광학 크리스탈 분광학 플라즈마 물리학 퓨전 토카막 플라즈마 진단
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