Riktade studier med Serial block Face och fokuserad Jon beam Scan Electron Microscopy

Här presenterar vi ett protokoll för att effektivt kombinera Serial block Face och fokuserad Jon beam scanning elektronmikroskopi för att rikta ett område av intresse. Detta möjliggör effektiv sökning, i tre dimensioner, och lokalisering av ovanliga händelser i ett stort synfält.