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接触模式原子力显微镜作为形态观察和细菌细胞损伤分析的快速技术

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Contact Mode Atomic Force Microscopy as a Rapid Technique for Morphological Observation and Bacterial Cell Damage Analysis

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接触模式原子力显微镜作为形态观察和细菌细胞损伤分析的快速技术

DOI:

10.3791/64823-v

•

05:34 min

•

June 30, 2023

•

Héctor Pérez Ladrón de Guevara, Virginia Villa-Cruz, Rita Patakfalvi, Lily Xochilt Zelaya-Molina, Ramiro Muñiz-Diaz

¹Centro Universitario de los Lagos,Universidad de Guadalajara, ²Centro Nacional de Recursos Genéticos,Instituto Nacional de Investigaciones Forestales, Agrícolas y Pecuarias

Chapitres

00:04Introduction
00:31Bacterial Sample Preparation and AFM Measurements
03:10Results: Atomic Force Contact Microscopic Analysis of Bacterial Cultures Under Nanoparticle Influence
04:46Conclusion

Summary

Traduction automatique

在这里，我们介绍了原子力显微镜（AFM）作为一种简单快速的细菌表征方法的应用，并分析了诸如细菌大小和形状，细菌培养生物膜以及纳米颗粒作为杀菌剂的活性等细节。

Tags

Keywords: Contact Mode Atomic Force Microscopy Morphological Observation Bacterial Cell Damage Analysis Fixed Sample Contact Mode ContAI-G Probes Auto Slope Z Controller Scan Range XY Plane Line By Line Leveling Staphylococcus Aureus Cocci Aggregates Population Distribution Cocci Morphology

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