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Microscopía de fuerza atómica en modo de contacto como técnica rápida para la observación morfológica y el análisis del daño celular bacteriano
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Contact Mode Atomic Force Microscopy as a Rapid Technique for Morphological Observation and Bacterial Cell Damage Analysis
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Microscopía de fuerza atómica en modo de contacto como técnica rápida para la observación morfológica y el análisis del daño celular bacteriano

DOI:
10.3791/64823-v

•

05:34 min

•

June 30, 2023

•

, , , ,
1Centro Universitario de los Lagos,Universidad de Guadalajara, 2Centro Nacional de Recursos Genéticos,Instituto Nacional de Investigaciones Forestales, Agrícolas y Pecuarias

Chapitres

  • 00:04Introduction
  • 00:31Bacterial Sample Preparation and AFM Measurements
  • 03:10Results: Atomic Force Contact Microscopic Analysis of Bacterial Cultures Under Nanoparticle Influence
  • 04:46Conclusion

Summary

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Aquí, presentamos la aplicación de la microscopía de fuerza atómica (AFM) como un método simple y rápido para la caracterización bacteriana y analizamos detalles como el tamaño y la forma bacteriana, las biopelículas de cultivo bacteriano y la actividad de las nanopartículas como bactericidas.

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Keywords: Contact Mode Atomic Force MicroscopyMorphological ObservationBacterial Cell Damage AnalysisFixed SampleContact ModeContAI-G ProbesAuto SlopeZ ControllerScan RangeXY PlaneLine By Line LevelingStaphylococcus AureusCocci AggregatesPopulation DistributionCocci Morphology

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