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形態学的観察および細菌細胞損傷解析のための迅速技術としての接触モード原子間力顕微鏡法

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Contact Mode Atomic Force Microscopy as a Rapid Technique for Morphological Observation and Bacterial Cell Damage Analysis

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形態学的観察および細菌細胞損傷解析のための迅速技術としての接触モード原子間力顕微鏡法

DOI:

10.3791/64823-v

•

05:34 min

•

June 30, 2023

•

Héctor Pérez Ladrón de Guevara, Virginia Villa-Cruz, Rita Patakfalvi, Lily Xochilt Zelaya-Molina, Ramiro Muñiz-Diaz

¹Centro Universitario de los Lagos,Universidad de Guadalajara, ²Centro Nacional de Recursos Genéticos,Instituto Nacional de Investigaciones Forestales, Agrícolas y Pecuarias

Chapitres

00:04Introduction
00:31Bacterial Sample Preparation and AFM Measurements
03:10Results: Atomic Force Contact Microscopic Analysis of Bacterial Cultures Under Nanoparticle Influence
04:46Conclusion

Summary

Traduction automatique

ここでは、細菌の特性評価のための簡単で迅速な方法としての原子間力顕微鏡(AFM)の応用を紹介し、細菌のサイズと形状、細菌培養バイオフィルム、殺菌剤としてのナノ粒子の活性などの詳細を分析します。

Tags

Keywords: Contact Mode Atomic Force Microscopy Morphological Observation Bacterial Cell Damage Analysis Fixed Sample Contact Mode ContAI-G Probes Auto Slope Z Controller Scan Range XY Plane Line By Line Leveling Staphylococcus Aureus Cocci Aggregates Population Distribution Cocci Morphology

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