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Modalità di contatto Microscopia a forza atomica come tecnica rapida per l'osservazione morfologica e l'analisi del danno cellulare batterico
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Contact Mode Atomic Force Microscopy as a Rapid Technique for Morphological Observation and Bacterial Cell Damage Analysis
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Modalità di contatto Microscopia a forza atomica come tecnica rapida per l'osservazione morfologica e l'analisi del danno cellulare batterico

DOI:
10.3791/64823-v

•

05:34 min

•

June 30, 2023

•

, , , ,
1Centro Universitario de los Lagos,Universidad de Guadalajara, 2Centro Nacional de Recursos Genéticos,Instituto Nacional de Investigaciones Forestales, Agrícolas y Pecuarias

Chapitres

  • 00:04Introduction
  • 00:31Bacterial Sample Preparation and AFM Measurements
  • 03:10Results: Atomic Force Contact Microscopic Analysis of Bacterial Cultures Under Nanoparticle Influence
  • 04:46Conclusion

Summary

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Qui, presentiamo l'applicazione della microscopia a forza atomica (AFM) come metodo semplice e veloce per la caratterizzazione batterica e analizziamo dettagli come la dimensione e la forma batterica, i biofilm di coltura batterica e l'attività delle nanoparticelle come battericidi.

Tags

Keywords: Contact Mode Atomic Force MicroscopyMorphological ObservationBacterial Cell Damage AnalysisFixed SampleContact ModeContAI-G ProbesAuto SlopeZ ControllerScan RangeXY PlaneLine By Line LevelingStaphylococcus AureusCocci AggregatesPopulation DistributionCocci Morphology

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