Samlokalisering av Kelvin Probe Force Microscopy med andre mikroskopier og spektroskopier: Utvalgte applikasjoner i korrosjonskarakterisering av legeringer

Kelvin-sondekraftmikroskopi (KPFM) måler overflatetopografi og forskjeller i overflatepotensial, mens skanningelektronmikroskopi (SEM) og tilhørende spektroskopi kan belyse overflatemorfologi, sammensetning, krystallinitet og krystallografisk orientering. Følgelig kan samlokalisering av SEM med KPFM gi innsikt i effekten av nanoskala sammensetning og overflatestruktur på korrosjon.