JoVE Journal
Engineering
Engineering
A subscription to JoVE is required to view this content. Sign in or start your free trial.
Chapters
Summary
Please note that all translations are automatically generated.
I dette arbeidet, beskriver vi bruken av atom-sonde tomografi teknikk for å studere korngrensene fra absorberen lag i en CIGS solcelle. En ny tilnærming for å forberede atomet probespisser inneholder ønsket korn grensen med en kjent struktur blir også presentert her.