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Messung der Spannungsstifte Während Laser Induced Axon Läsion Axonal Haftung auf dem Substrat und auswerten zu Pikonewton Millisekundenauflösung
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Measurement of Tension Release During Laser Induced Axon Lesion to Evaluate Axonal Adhesion to the Substrate at Piconewton and Millisecond Resolution
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Messung der Spannungsstifte Während Laser Induced Axon Läsion Axonal Haftung auf dem Substrat und auswerten zu Pikonewton Millisekundenauflösung

DOI:
10.3791/50477-v

•

09:31 min

•

May 27, 2013

•

, ,
1Institute of Biophysics,National Research Council of Italy, 2Dipartimento di Sistemi e Informatica,Università di Firenze, 3Department of Neuroscience and Brain Technologies,Istituto Italiano di Tecnologia

Chapters

  • 00:05Title
  • 01:27Laser Microsphere Manipulation
  • 03:31UV and IR Beam Positioning and Optical Tweezer Calibration
  • 04:56Axotomy and Simultaneous Force Measurement
  • 06:50Results: Measurement of Changes in Cytoskeletal Equilibrium Caused by Laser Induced Lesions
  • 08:50Conclusion

Summary

Automatic Translation

Automatic Translation

Wir messen die Spannung zu lösen in einem Axon, die teilweise mit einem Laser dissector durch gleichzeitige Kraft-Spektroskopie-Messung an einem optisch gefangen Sonde haftete an der Membran des Axons durchgeführt wurde lädierten. Das entwickelte Versuchsprotokoll wertet das Axon Haftung auf dem Kultursubstrat.

Tags

Laser-induced Axon LesionTension ReleaseAxonal AdhesionForce SpectroscopyInterferometric TrackingOptical TrappingCell-substrate CouplingNeurite GrowthNeuronal Regeneration

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