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ライト強化フッ酸不動態化:バルクシリコン欠陥を検出するための高感度テクニック
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Light Enhanced Hydrofluoric Acid Passivation: A Sensitive Technique for Detecting Bulk Silicon Defects
DOI:

09:15 min

January 04, 2016

Chapters

  • 00:05Title
  • 01:02Cleaning and Etching the Silicon Wafers
  • 04:08Silicon Wafer Passivation and Photoconductive (PC) Measurement
  • 07:08Results: Silicon Wafer Photoconductive Measurement after Surface Passivation
  • 08:10Conclusion

Summary

Automatic Translation

バルクシリコンの欠陥の再結合活性を調べるRT液体表面パッシベーション技術が記載されています。 1分間15%のフッ酸と、(iii)照明(I)において、化学洗浄及びシリコンのエッチング、シリコンの(ii)の浸漬:技術を成功させるには、3つの重要な手順が必要です。

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