JoVE Journal
Engineering
Engineering
This content is Open Access.
Chapters
Summary
Please note that all translations are automatically generated.
Vi bruker et avvik-korrigert skanning transmission elektronmikroskop definere ett siffer nanometer mønstre i to brukte elektronstråle motstår: poly (methyl methacrylate) og hydrogen silsesquioxane. Motstå mønstre kan replikeres i målet materialet til valg med enkelt siffer nanometer gjengivelse bruker oppskytning, plasma etsing, og motstå infiltrasjon av organometallics.