Chemistry
A subscription to JoVE is required to view this content. Sign in or start your free trial.
Chapters
Summary
Please note that all translations are automatically generated.
Atomkraftmikroskopi (AFM) kombinert med skanning av elektrokjemisk mikroskopi (SECM), nemlig AFM-SECM, kan brukes til samtidig å skaffe seg topografisk og elektrokjemisk informasjon med høy oppløsning på materialoverflater ved nanoskala. Slik informasjon er avgjørende for å forstå heterogene egenskaper (f.eks. reaktivitet, defekter og reaksjonssteder) på lokale overflater av nanomaterialer, elektroder og biomaterialer.