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Journal / Engineering / Atom Probe Studi tomografia sul Cu (In, Ga) se
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Atom Probe Studi tomografia sul Cu (In, Ga) se
 
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Atom Probe Studi tomografia sul Cu (In, Ga) se

Article DOI: 10.3791/50376-v • 09:51 min • April 22nd, 2013
April 22nd, 2013 •
1, 1, 1, 1, 2, 1
1Department of Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, 2Zentrum für Sonnenenergie- und Wasserstoff-Forschung Baden-Württemberg ( ZSW )

Chapitres

résumé
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In questo lavoro, si descrive l'uso della tecnica tomografia atomo-sonda per studiare i bordi grano dello strato assorbitore in una cella solare CIGS. Un nuovo approccio per preparare le punte della sonda atomo contenenti il ​​bordo di grano desiderata con una struttura nota è anche presentato qui.

Tags

Fisica Numero 74 la chimica teoria dei campi (fisica) cristallografia materiali semiconduttori fisica dello stato solido fisica della materia condensata film sottili (teoria la deposizione e la crescita) difetti di cristallo struttura di cristallo (semiconduttori) celle solari a film sottile Cu (In Ga) Se Grano confine segregazione pulsato atomo sonda laser tomografia microscopia elettronica a trasmissione TEM diffrazione di elettroni backscatter atomo sonda tomografia APT SEM imaging
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