Engineering
Un abonnement à JoVE est nécessaire pour afficher ce contenu. Connectez-vous ou commencez votre essai gratuit.
Chapitres
résumé
Please note that all translations are automatically generated.
I detta arbete, beskriver vi användningen av atomen-sonden tomography teknik för att studera korngränserna i absorbentskiktet i en CIGS solcell. En ny metod för att framställa de tips atom prob innehållande den önskade korngränsen med en känd struktur presenteras också här.