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कार्बनिक Optoelectronic डिवाइस गिरावट परीक्षण के लिए एक 3d मुद्रित चैंबर
 
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कार्बनिक Optoelectronic डिवाइस गिरावट परीक्षण के लिए एक 3d मुद्रित चैंबर

Article DOI: 10.3791/56925-v 08:29 min August 10th, 2018
August 10th, 2018

Chapitres

résumé

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यहां, हम डिजाइन, निर्माण के लिए एक प्रोटोकॉल मौजूद है, और एक सरल, बहुमुखी 3 डी मुद्रित और हवा के प्रति संवेदनशील कार्बनिक optoelectronic उपकरणों के ऑप्टिकल और बिजली के लक्षण वर्णन के लिए नियंत्रित वायुमंडलीय चैंबर के उपयोग ।

Tags

इंजीनियरिंग अंक १३८ कार्बनिक इलेक्ट्रॉनिक्स क्षरण परीक्षण additive विनिर्माण आर्द्रता परीक्षण अर्धचालक parameterization perovskite सौर कोशिकाओं कार्बनिक प्रकाश उत्सर्जक डायोड
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