Chemistry
Un abonnement à JoVE est nécessaire pour afficher ce contenu. Connectez-vous ou commencez votre essai gratuit.
Chapitres
résumé
Please note that all translations are automatically generated.
Атомно-силовая микроскопия (АСМ) в сочетании со сканирующей электрохимической микроскопией (ТСЭМ), а именно АСМ-ТСЭМ, может использоваться для одновременного получения топографической и электрохимической информации высокого разрешения на поверхностях материалов на наноуровне. Такая информация имеет решающее значение для понимания гетерогенных свойств (например, реакционной способности, дефектов и мест реакций) на локальных поверхностях наноматериалов, электродов и биоматериалов.