Waiting
Elaborazione accesso...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
Journal / Engineering / ספקטרוסקופיה קיבוליות חד אלקטרונים…
JoVE Journal
Engineering

È necessario avere un abbonamento a JoVE per visualizzare questo Contenuto. Accedi o inizia la tua prova gratuita.

JoVE Journal Engineering
ספקטרוסקופיה קיבוליות חד אלקטרונים סורקות-בדיקה
 
Click here for the English version

ספקטרוסקופיה קיבוליות חד אלקטרונים סורקות-בדיקה

Article DOI: 10.3791/50676-v • 10:53 min • July 30th, 2013
July 30th, 2013 •
1, 1, 1,2, 1,3, 4, 1
1Department of Physics and Astronomy, Michigan State University, 2Department of Chemistry & Biochemistry/Physics, Mercyhurst University, 3Department of Physics, Saint Louis University, 4Department of Physics, Massachusetts Institute of Technology

Capitoli

Riepilogo
Automatic Translation

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

ספקטרוסקופיה הקיבול יחידה אלקטרונים סורקות-בדיקה מאפשרת חקר תנועת אלקטרון בודד מתחת לפני הקרקע באזורים מקומיים. מעגל אחראי לזיהוי רגיש הוא שולב מיקרוסקופ סריקת בדיקה קריוגני לחקור מערכות קטנות של אטומים dopant מתחת לפני השטח של דגימות מוליכים למחצה.

Tags

פיסיקה גיליון 77 ביופיזיקה ביולוגיה מולקולרית ביולוגיה תאית מיקרוסקופית סריקת בדיקה ננוטכנולוגיה פיסיקה אלקטרוניקה acceptors (מצב מוצק) תורמים (מצב מוצק) פיסיקה של מצב מוצק מיקרוסקופ מנהור מיקרוסקופיה קיבול סריקה פריצה מתחת לפני הקרקע הצטברות הדמיה קיבול ספקטרוסקופיה סריקת בדיקה מיקרוסקופית ספקטרוסקופיה אלקטרון בודד הדמיה
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter