Un abonnement à JoVE est nécessaire pour afficher ce contenu. Connectez-vous ou commencez votre essai gratuit.
Chapitres
résumé
Please note that all translations are automatically generated.
Magnetisk kraftmikroskopi (MFM) använder en vertikalt magnetiserad atomkraftmikroskopisond för att mäta provtopografi och lokal magnetfältstyrka med upplösning i nanoskala. Optimering av MFM-rumslig upplösning och känslighet kräver balansering av minskande lyfthöjd mot ökande drivamplitud (oscillation) och fördelar med att arbeta i en handskfack med inert atmosfär.