Waiting
Traitement de la connexion…

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
Journal / Chemistry / שחזור פרופיל עומק תלת ממדי של זיהומים מופרדים…
JoVE Journal
Chemistry

Ce contenu est en libre accès.

JoVE Journal Chemistry
שחזור פרופיל עומק תלת ממדי של זיהומים מופרדים באמצעות ספקטרומטריית מסת יונים משנית
 
Click here for the English version

שחזור פרופיל עומק תלת ממדי של זיהומים מופרדים באמצעות ספקטרומטריית מסת יונים משנית

Article DOI: 10.3791/61065-v • 07:10 min • April 29th, 2020
April 29th, 2020 •
1, 1, 1, 1, 1
1Łukasiewicz Research Network-Institute of Electronic Materials Technology

Chapitres

résumé
Automatic Translation

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

השיטה המוצגת מתארת כיצד לזהות ולפתור ממצאי מדידה הקשורים לספקטרומטריית מסות יונים משנית וכן להשיג התפלגות תלת ממדית מציאותית של זיהומים / דופנטים בחומרי מצב מוצק.

Tags

שחזור פרופיל עומק תלת ממדי זיהומים מופרדים ספקטרומטריית מסת יונים משנית SIMS גבולות זיהוי רזולוציה מרחבית התפלגות תלת ממדית מציאותית תוצרי מדידה תיקון שדה שטוח תרומת רקע ואקום טווח זמן יציב מקור יונים ראשוני תחריט כימי רטוב מיקום נקע מיקרוסקופ אלקטרונים סורק (SEM) זיהומים מצטברים מיקום פגמים שלב הכנת הדגימה
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter